【仪器名称】四探针测试仪

【仪器品牌】百神科技

【仪器型号】SX-1944

【购置时间】2008/12/19

【放置地点】综合楼312

【功能特色】

可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的膜层电阻（亦称方块电阻）

【主要技术指标】

电阻率：10-4~ 105Ω-cm；方块电阻：10-3~ 106Ω/ □；电阻：10-4~ 105Ω。

【仪器图片】