【仪器名称】透射电子显微镜

【仪器品牌】日本电子

【仪器型号】JEM-F200

【购置时间】2024年

【放置地点】综合楼112

【功能特色】

金属材料、半导体材料和纳米材料等领域，在高分辨模式下，可以拍摄样品的低倍形貌和高倍晶格像。高分子材料、软材料和生命科学等领域，在高衬度模式下，能够提供高反差图像，能够直接观察未染色的样品。

【主要技术指标】

分辨率：点分辨率0.23nm（200KV），线分辨率0.10nm（200KV），BF/HAADF分辨率0.16nm（200kV）；放大倍数：TEM模式下放大倍数：20-2000000倍；STEM模式放大倍率：100-150000000倍；元素分析范围：Be（Z=4）-Cf（Z=98）。

【仪器图片】